A.计量型交叉模型MSA
B.计量型嵌套模型MSA
C.属性一致性分析
D.方差分析
A.随机地从生产线上抽取样品
B.尽量取一半合格品和一半不合格品,并保证有些产品不太容易区分为合格或不合格,这与实际生产状态无关
C.可以随意设定比例,因为此比例与测量系统是否合格是无关的
D.样本中的合格率与产品实际生产的合格率基本保持一致
A.破坏性检测无法进行测量系统分析
B. 每个测量系统必须使用数字显示的计量仪器
C. 测量系统误差影响被测量对象的真值
D. 随机测量是测量系统分析的基本原则
A.重新随机抽取零件,再次进行测量系统分析,直到没有交互作用为止
B.分析不同测量者的测量方法,找出原因,解决问题
C.重新选择测量者,再次进行测量系统分析,直到没有交互作用为止
D.以上说法都不对
A.饰条不是重要部件,不再重新测试
B.重新取得有代表性的饰条掉漆样本,再次进行测试分析
C.增加样本并改善现场检验环境,再次进行测试分析
D.培训检验员检验标准,再次进行测试分析
A.根据实际生产的不良率,选择成比例的合格及不合格样品
B.至少10件合格,至少10件不合格,这与实际生产状态无关
C.设定某一比率现场抽取合格零件与不合格
D.以上说法均不正确
A.在测量阶段确认是否需要进行测量系统分析后,没有必要时不需要进行测量系统分析
B. 破坏性检验无法进行测量系统分析
C. 测量值的‘真值’是无法知道的,我们定义的真值是理论真值
D. 线性是检验随着测量范围的大小变化的测量仪器正确度
A.在测量阶段检讨是否需要进行测量系统分析后,没有必要时不需要进行分析
B. 破坏性检验无法进行测量系统分析
C. 测量值的‘真值’是无法知道的,我们定义的真值是理论真值
D. 线性是检验随着测量范围的大小变化的测量仪器准确度
A.在进行测量系统分析之前,应先分析测量量具的分辨力,如果分辨力不足,更换量具
B.测量系统的分辨力应越小越好,企业应购置同类分辨力最小的量具
C.测量系统分析应先进行准确性的判断,如果准确性无法满足,则一定要重新购买新的量具
D.测量系统分析应首先进行精确性的判断,精确性无法满足,只要知道精确性的真实数据,还可以使用
A.测量系统不合格
B.%SV=59.9%,主要是由于重复性导致
C.%SV测量系统不合格的原因可能是人员对测量仪器设备不掌握导致的
D.%公差不合格的原因可能是测量仪器分辨率不够导致的