题目内容
（请给出正确答案）
[单选题]
CSK£IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（)
A.测定斜探头K值
B.测定直探头盲区范围
C.测定斜探头分辨力
D.以上全是
查看答案
如果结果不匹配，请 联系老师 获取答案
题目内容
（请给出正确答案）
如果结果不匹配，请 联系老师 获取答案
题目内容
（请给出正确答案）
A.测定斜探头K值
B.测定直探头盲区范围
C.测定斜探头分辨力
D.以上全是
如果结果不匹配，请 联系老师 获取答案
更多“CSK£IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、…”相关的问题
A.对比试块与被检件或材料化学成份相似
B.试块的外形尺寸能代表被检工件的特征
C.对比试块的厚度与被检工件厚度相对应，涉及到不同工件厚度对接接头检测，试块厚度选择应由其较大工件厚度确定
D.对比试块用于仪器探头性能校准和检测校准
A.5格
B.9格
C.6格
